Influence of pinning trap in Ti/4H–SiC Schottky barrier diode

K. Ohtsuka; Y. Matsuno; Y. Hase; H. Sugimoto; K. Fujihira; Y. Tarui; M. Imaizumi; T. Takami; T. Ozeki

作者K. Ohtsuka; Y. Matsuno; Y. Hase; H. Sugimoto; K. Fujihira; Y. Tarui; M. Imaizumi; T. Takami; T. Ozeki
卷第6卷
印刷ISSN1369-8001
文件大小275.75KB
发表时间2003
DOI10.1016/j.mssp.2003.08.016
页码359-362

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