Imaging subwavelength holes using an apertureless near-field scanning optical microscope
Formanek, F.; De Wilde, Y.; Aigouy, L.
- 期刊名称Journal of Applied Physics
- 作者Formanek, F.; De Wilde, Y.; Aigouy, L.
- 卷第93卷
- 期第12期
- 印刷ISSN0021-8979
- 文件大小710.92KB
- 发表时间2003
- DOI10.1063/1.1574178