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Analog and mixed signal test techniques for SoCs

Analog and mixed signal test techniques for SoCs

Hans G. Kerkhoff; Bozena Kaminska

作者Hans G. Kerkhoff; Bozena Kaminska
卷第34卷
期第10期
印刷ISSN0026-2692
文件大小47.01KB
发表时间2003
DOI10.1016/s0026-2692(03)00234-9
页码887-888

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