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Electric-field-induced second-harmonic microscopy

Electric-field-induced second-harmonic microscopy

K. Wu; J. D. Canterbury; P. T. Wilson; M. C. Downer

作者K. Wu; J. D. Canterbury; P. T. Wilson; M. C. Downer
期第8期
印刷ISSN1610-1634
电子ISSN1610-1642
文件大小409.84KB
发表时间2003
DOI10.1002/pssc.200303853
页码3081-3085

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