Accumulator-based built-in self-test generator for robustly detectable sequential fault testing
- 作者Voyiatzis, I.; Kranitis, N.; Gizopoulos, D.; Paschalis, A.; Halatsis, C.
- 卷第151卷
- 期第6期
- 印刷ISSN1350-2387
- 文件大小357.88KB
- 发表时间2004
- DOI10.1049/ip-cdt:20040850
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