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Application of template matching technique to particle detection in electron micrographs

Application of template matching technique to particle detection in electron micrographs

Zhong Huang; Pawel A. Penczek

作者Zhong Huang; Pawel A. Penczek
卷第145卷
印刷ISSN1047-8477
电子ISSN1095-8657
文件大小657.72KB
发表时间2004
DOI10.1016/j.jsb.2003.11.004

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