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DAC Highlights

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Lavagno, L.

期刊名称IEEE Design and Test of Computers
作者Lavagno, L.
卷第21卷
期第3期
印刷ISSN0740-7475
文件大小247.24KB
发表时间2004-05
DOI10.1109/mdt.2004.7
页码259-260

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