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Origin of Leakage Current in SiC Schottky Barrier Diodes at High Temperature

Origin of Leakage Current in SiC Schottky Barrier Diodes at High Temperature

Saitoh, Hiroaki; Kimoto, Tsunenobu; Matsunami, Hiroyuki
  • 期刊名称Materials Science Forum
  • 作者Saitoh, Hiroaki; Kimoto, Tsunenobu; Matsunami, Hiroyuki
  • 电子ISSN1662-9752
  • 文件大小322.30KB
  • 发表时间2004
  • DOI10.4028/www.scientific.net/MSF.457-460.997
  • 页码997-1000
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