Measurement of micro-roughness using a metrological large range scanning force microscope
G. Dai; L. Jung; F. Pohlenz; H. Danzebrink; R. Krüger-sehm; K. Hasche; G. Wilkening
- 作者G. Dai; L. Jung; F. Pohlenz; H. Danzebrink; R. Krüger-sehm; K. Hasche; G. Wilkening
- 文件大小727.19KB
- 发表时间2004
- DOI10.1088/0957-0233/15/10/013