Tunneling Current through Ultrathin Silicon Dioxide Films under Light Exposure
S. Morita; A. Shinozaki; Y. Morita; K. Nishimura; T. Okazaki; S. Urabe; M. Morita
- 作者S. Morita; A. Shinozaki; Y. Morita; K. Nishimura; T. Okazaki; S. Urabe; M. Morita
- 文件大小196.51KB
- 发表时间2004
- DOI10.1143/JJAP.43.7857