A concurrent built-in self-test architecture based on a self-testing RAM

• 作者Voyiatzis, I.; Paschalis, A.; Gizopoulos, D.; Kranitis, N.; Halatsis, C.
• 卷第54卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0018-9529
• 电子ISSN1558-1721
• 文件大小1134.40KB
• 发表时间2005
• DOI10.1109/tr.2004.842091
• 页码69-78