Uniformity measurement of electron emission from carbon nanotubes using electron-beam resist
J. H. Lee; S. H. Lee; W. S. Kim; H. J. Lee; J. N. Heo; T. W. Jeong; C. H. Choi; J. M. Kim; J. H. Park; J. S. Ha; H. J. Lee; J. W. Moon; M. A. Yoo; J. W. Nam; S. H. Cho; T. I. Yoon; B. S. Kim; D. H. Choe
- 作者J. H. Lee; S. H. Lee; W. S. Kim; H. J. Lee; J. N. Heo; T. W. Jeong; C. H. Choi; J. M. Kim; J. H. Park; J. S. Ha; H. J. Lee; J. W. Moon; M. A. Yoo; J. W. Nam; S. H. Cho; T. I. Yoon; B. S. Kim; D. H. Choe
- 文件大小832.70KB
- 发表时间2005
- DOI10.1116/1.1861036