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Structural and electrical properties of metal impurities at dislocations in silicon

Structural and electrical properties of metal impurities at dislocations in silicon

M. Seibt; V. Kveder; W. Schröter; O. Voß
  • 作者M. Seibt; V. Kveder; W. Schröter; O. Voß
  • 卷第202卷
  • 期第5期
  • 印刷ISSN1862-6319
  • 文件大小363.27KB
  • 发表时间2005
  • DOI10.1002/pssa.200460515
  • 页码911-920
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