Detection of surface states anisotropies at GaAs(001)(2 × 4) decapped surfaces
C. Goletti; V. Emiliani; S. Schintke; A. M. Frisch; N. Esser; B. O. Fimland
- 作者C. Goletti; V. Emiliani; S. Schintke; A. M. Frisch; N. Esser; B. O. Fimland
- 卷第242卷
- 期第13期
- 印刷ISSN0370-1972
- 电子ISSN1521-3951
- 文件大小192.80KB
- 发表时间2005
- DOI10.1002/pssb.200541103
- 页码2664-2670