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Comparative analysis of accelerated ageing effects on power RF LDMOS reliability

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M.A. Belaïd; K. Ketata; K. Mourgues; H. Maanane; M. Masmoudi; J. Marcon
  • 作者M.A. Belaïd; K. Ketata; K. Mourgues; H. Maanane; M. Masmoudi; J. Marcon
  • 卷第45卷
  • 印刷ISSN0026-2714
  • 文件大小410.09KB
  • 发表时间2005
  • DOI10.1016/j.microrel.2005.07.099
  • 页码1732-1737
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