Crystallographic analysis of thin specimens

V. G. M. SIVEL; F. D. TICHELAAR; H. MOHDADI; P. F. A. ALKEMADE; H. W. ZANDBERGEN

作者V. G. M. SIVEL; F. D. TICHELAAR; H. MOHDADI; P. F. A. ALKEMADE; H. W. ZANDBERGEN
卷第218卷
期第2期
印刷ISSN0022-2720
电子ISSN1365-2818
文件大小422.10KB
发表时间2005
DOI10.1111/j.1365-2818.2005.01475.x
页码115-124

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