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Characterization of the protocrystalline silicon multilayer

Characterization of the protocrystalline silicon multilayer

Seong Won Kwon; Joonghwan Kwak; Seung Yeop Myong; Koeng Su Lim

作者Seong Won Kwon; Joonghwan Kwak; Seung Yeop Myong; Koeng Su Lim
卷第352卷
印刷ISSN0022-3093
文件大小146.16KB
发表时间2006
DOI10.1016/j.jnoncrysol.2005.12.016

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