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Read disturb in flash memories: reliability case

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P. Tanduo; L. Cola; S. Testa; M. Menchise; A. Mervic

作者P. Tanduo; L. Cola; S. Testa; M. Menchise; A. Mervic
卷第46卷
文件大小357.36KB
发表时间2006
DOI10.1016/j.microrel.2006.07.007
页码1439-1444

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