Fragment Length Distributions and Collision Probabilities for AFLP Markers
Gerrit Gort, Wim J. M. Koopman and Alfred Stein
- 期刊名称Biometrics
- 作者Gerrit Gort, Wim J. M. Koopman and Alfred Stein
- 卷第62卷
- 期第4期
- 印刷ISSN0006-341X
- 电子ISSN1541-0420
- 文件大小1821.46KB
- 发表时间2006-12
- DOI10.2307/4124532
- 页码1107-1115