PRE-ANNEALING EFFECTS ON AL METALLIZATION PROPERTIES IN HIGH DENSITY FeRAM DEVICE
CHO, K. W.; CHOI, J. H.; YU, H. S.; KWEON, S. Y.; YEOM, S. J.; KIM, N. K.; CHOI, E. S.; SUN, H. J.; HONG, S. K.; HONG, T. W.; KIM, I. H.; LEE, J. I.; UR, S. C.; LEE, Y. G.; RYU, S. L.; CHOI, S. K.
- 期刊名称Integrated Ferroelectrics
- 作者CHO, K. W.; CHOI, J. H.; YU, H. S.; KWEON, S. Y.; YEOM, S. J.; KIM, N. K.; CHOI, E. S.; SUN, H. J.; HONG, S. K.; HONG, T. W.; KIM, I. H.; LEE, J. I.; UR, S. C.; LEE, Y. G.; RYU, S. L.; CHOI, S. K.
- 卷第81卷
- 期第1期
- 印刷ISSN1058-4587
- 电子ISSN1607-8489
- 文件大小2868.41KB
- 发表时间2006-11
- DOI10.1080/10584580600659910
- 页码113-122