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Crack initiation in Cu-interconnect structures

Crack initiation in Cu-interconnect structures

H. Brillet-Rouxel; E. Arfan; D. Leguillon; M. Dupeux; M. Braccini; S. Orain
  • 作者H. Brillet-Rouxel; E. Arfan; D. Leguillon; M. Dupeux; M. Braccini; S. Orain
  • 卷第83卷
  • 印刷ISSN0167-9317
  • 文件大小867.21KB
  • 发表时间2006
  • DOI10.1016/j.mee.2006.10.053
  • 页码2297-2302
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