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Mapping nanotechnology patents: The EPO approach

Mapping nanotechnology patents: The EPO approach

M. Scheu; V. Veefkind; Y. Verbandt; E. Molina Galan; R. Absalom; W. Förster

作者M. Scheu; V. Veefkind; Y. Verbandt; E. Molina Galan; R. Absalom; W. Förster
卷第28卷
期第3期
印刷ISSN0172-2190
文件大小341.29KB
发表时间2006
DOI10.1016/j.wpi.2006.03.005
页码204-211

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