Direct observation of the site-specific valence electronic structure at SiO2/Si(111) interface
Yamashita, Y.; Yamamoto, S.; Mukai, K.; Yoshinobu, J.; Harada, Y.; Tokushima, T.; Takeuchi, T.; Takata, Y.; Shin, S.; Akagi, K.; Tsuneyuki, S.
- 期刊名称e-Journal of Surface Science and Nanotechnology
- 作者Yamashita, Y.; Yamamoto, S.; Mukai, K.; Yoshinobu, J.; Harada, Y.; Tokushima, T.; Takeuchi, T.; Takata, Y.; Shin, S.; Akagi, K.; Tsuneyuki, S.
- 卷第4卷
- 电子ISSN1348-0391
- 文件大小422.99KB
- 发表时间2006
- DOI10.1380/ejssnt.2006.280
- 页码280-284