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The reliability of general vague fault-tree analysis on weapon systems fault diagnosis

The reliability of general vague fault-tree analysis on weapon systems fault diagnosis

J.-R. Chang; K.-H. Chang; S.-H. Liao; C.-H. Cheng
  • 作者J.-R. Chang; K.-H. Chang; S.-H. Liao; C.-H. Cheng
  • 卷第10卷
  • 期第7期
  • 印刷ISSN1432-7643
  • 电子ISSN1433-7479
  • 文件大小247.61KB
  • 发表时间2006-05
  • DOI10.1007/s00500-005-0483-y
  • 页码531-542
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