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An Automated BIST Architecture for Testing and Diagnosing FPGA Interconnect Faults

An Automated BIST Architecture for Testing and Diagnosing FPGA Interconnect Faults

Jack Smith; Tian Xia; Charles Stroud
  • 作者Jack Smith; Tian Xia; Charles Stroud
  • 卷第22卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小450.53KB
  • 发表时间2006-06
  • DOI10.1007/s10836-006-9319-7
  • 页码239-253
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