Minimizing Test Time in Arithmetic Test-Pattern Generators With Constrained Memory Resources

• 作者Manich, S.; Garcia-Deiros, L.; Figueras, J.
• 卷第26卷
• 期第11期
• 印刷ISSN0278-0070
• 电子ISSN1937-4151
• 文件大小790.90KB
• 发表时间2007
• DOI10.1109/tcad.2007.906465