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Assessing Zener-Diode-Structure Reliability From Zener Diodes' Low-Frequency Noise

Assessing Zener-Diode-Structure Reliability From Zener Diodes' Low-Frequency Noise

Graffeuil, J.; Bary, L.; Rayssac, J.; Tartarin, J.-G.; Lopez, L.

期刊名称IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
作者Graffeuil, J.; Bary, L.; Rayssac, J.; Tartarin, J.-G.; Lopez, L.
卷第7卷
期第3期
印刷ISSN1530-4388
电子ISSN1558-2574
文件大小421.66KB
发表时间2007-09
DOI10.1109/tdmr.2007.907407
页码468-472

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