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Evaluation of commercial silicon diode for electron dosimetry

Evaluation of commercial silicon diode for electron dosimetry

H.J. Khoury; H. Schelin; D. Soboll; N. Lunelli; C. Baptista

作者H.J. Khoury; H. Schelin; D. Soboll; N. Lunelli; C. Baptista
卷第580卷
期第1期
印刷ISSN0168-9002
文件大小118.69KB
发表时间2007
DOI10.1016/j.nima.2007.05.224
页码537-539

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