Current-carrying property and microstructure of multilayered Sm1+xBa2−xCu3Oy thick films
T. Ozaki; Y. Yoshida; M. Miura; Y. Ichino; Y. Takai; K. Matsumoto; A. Ichinose; S. Horii; M. Mukaida
- 作者T. Ozaki; Y. Yoshida; M. Miura; Y. Ichino; Y. Takai; K. Matsumoto; A. Ichinose; S. Horii; M. Mukaida
- 印刷ISSN0921-4534
- 文件大小162.06KB
- 发表时间2007
- DOI10.1016/j.physc.2007.03.463
- 页码649-652