发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Telefonisch Interview Cognitieve Status (TICS): psychometrische aspecten

G. I. J. M. Kempen; A. J. L. Meier; S. F. M. Bouwens; J. van Deursen; F. R. J. Verhey

作者G. I. J. M. Kempen; A. J. L. Meier; S. F. M. Bouwens; J. van Deursen; F. R. J. Verhey
卷第38卷
期第1期
印刷ISSN0167-9228
电子ISSN1875-6832
文件大小108.95KB
发表时间2007-02
DOI10.1007/bf03074823
页码34-40