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Influence of microgravity on Ce-doped Bi12SiO20crystal defect

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Y. F. Zhou; J. Y. Xu; Y. Liu; L. D. Chen; Y. Y. Huang; W. X. Huang
  • 作者Y. F. Zhou; J. Y. Xu; Y. Liu; L. D. Chen; Y. Y. Huang; W. X. Huang
  • 卷第30卷
  • 期第3期
  • 印刷ISSN0250-4707
  • 电子ISSN0973-7669
  • 文件大小2284.21KB
  • 发表时间2007-06
  • DOI10.1007/s12034-007-0037-2
  • 页码211-214
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