Study of the electrical cycling stressed large area Schottky diodes using I–V and noise measurements

• 作者Milan M. Jevtić; Jovan M. Hadži-Vuković
• 卷第47卷
• 期第1期
• 印刷ISSN0026-2714
• 文件大小232.37KB
• 发表时间2007
• DOI10.1016/j.microrel.2006.03.013
• 页码51-58