Endurance Reliability of Multilevel-Cell Flash Memory Using a Dual Charge Storage Layer

• 作者Gang Zhang; Wan Sik Hwang; Seung-Hwan Lee; Byung-Jin Cho; Won Jong Yoo
• 卷第55卷
• 期第9期
• 印刷ISSN0018-9383
• 电子ISSN1557-9646
• 文件大小934.16KB
• 发表时间2008
• DOI10.1109/ted.2008.927396
• 页码2361-2369