Characterization of chromium silicide thin layer formed on amorphous silicon films
D. Caputo; G. de Cesare; M. Ceccarelli; A. Nascetti; M. Tucci; L. Meda; M. Losurdo; G. Bruno
- 作者D. Caputo; G. de Cesare; M. Ceccarelli; A. Nascetti; M. Tucci; L. Meda; M. Losurdo; G. Bruno
- 卷第354卷
- 印刷ISSN0022-3093
- 文件大小266.73KB
- 发表时间2008
- DOI10.1016/j.jnoncrysol.2007.10.040