Transition-metal-oxide-based resistance-change memories
Karg, S. F.; Meijer, G. I.; Bednorz, J. G.; Rettner, C. T.; Schrott, A. G.; Joseph, E. A.; Lam, C. H.; Janousch, M.; Staub, U.; La Mattina, F.; Alvarado, S. F.; Widmer, D.; Stutz, R.; Drechsler, U.; Caimi, D.
- 作者Karg, S. F.; Meijer, G. I.; Bednorz, J. G.; Rettner, C. T.; Schrott, A. G.; Joseph, E. A.; Lam, C. H.; Janousch, M.; Staub, U.; La Mattina, F.; Alvarado, S. F.; Widmer, D.; Stutz, R.; Drechsler, U.; Caimi, D.
- 卷第52卷
- 期第5期
- 文件大小598.04KB
- 发表时间2008
- DOI10.1147/rd.524.0481
- 页码481-492