Write Current Reduction in Transition Metal Oxide Based Resistance Change Memory
S.-E. Ahn; M.-J. Lee; Y. Park; B. S. Kang; C. B. Lee; K. H. Kim; S. Seo; D.-S. Suh; D.-C. Kim; J. Hur; W. Xianyu; G. Stefanovich; H. Yin; I.-K. Yoo; J.-H. Lee; J.-B. Park; I.-G. Baek; B. H. Park
- 作者S.-E. Ahn; M.-J. Lee; Y. Park; B. S. Kang; C. B. Lee; K. H. Kim; S. Seo; D.-S. Suh; D.-C. Kim; J. Hur; W. Xianyu; G. Stefanovich; H. Yin; I.-K. Yoo; J.-H. Lee; J.-B. Park; I.-G. Baek; B. H. Park
- 卷第20卷
- 期第5期
- 印刷ISSN0935-9648
- 电子ISSN1521-4095
- 文件大小333.22KB
- 发表时间2008
- DOI10.1002/adma.200702081
- 页码924-928