SIMULTANEOUS MULTIFRACTAL ANALYSIS OF THE BRANCHING AND VISIBILITY MEASURE ON A GALTON—WATSON TREEADAM L. KINNISON and PETER MÖRTERS · Advances in Applied Probability · 2010

The L3 silicon microvertex detectorM. Acciarri; A. Adam; O. Adriani; S. Ahlen; J. Alcaraz; G. Ambrosi; E. Babucci; L. Baksay; A. Baschirotto; R. Battiston; W. Baur; A. Bay; Gy.L. Bencze; B. Bertucci; M. Biasini; G.M. Bilei; G.J. Bobbink; J.G. Boissevain; M. Bosetti; M.L. Brooks; W.J. Burger; J. Busenitz; C. Camps; M. Caria; G. Castellini; R. Castello; B. Checcuccl; A. Chen; T.E. Coan; V. Commichau; D. DiBitonto; J. Ding; P. Duinker; L. Djambazov; S. Easo; P. Extermann; E. Fiandrini; A. Gabbanini; J. Goldstein; A. Gougas; K. Hangarter; C. Hauviller; A. Herve; M. Hofer; T. Hofer; S. Hou; M.I. Josa; J.S. Kapustinsky; D. Kim; W.W. Kinnison; H. Kirst; J. Kornis; V.R. Krastev; P. Ladron; G. Landi; M. Lebeau; P. Lecomte; D.M. Lee; R. Leiste; E. Lejeune; W.T. Lin; W. Lohmann; A. Marin; R. Massetti; G.B. Mills; H. Nowak; M. Okle; G. Passaleva; T. Paul; M. Pauluzzi; S. Pensotti; E. Perrin; N. Produit; P.G. Rancoita; M. Rattaggi; J.-P. Richeux; A. Santocchia; R. Siedling; M. Sachwitz; P. Schmitz; B. Schöneich; L. Servoli; K. Subham; G.F. Susinno; G. Terza; M. Tesi; T. Thompson; F. Tonisch; J. Toth; G. Trowitzsch; G. Viertel; H. Tuchscherer; H. Vogt; S. Wang; S. Waldmeier; R. Weill; J. Xu; S.C. Yeh; B. Zhou; G. Zilizi · 1994

Test beam results from the prototype L3 Silicon Microvertex DetectorA. Adam; O. Adriani; S. Ahlen; G. Ambrosi; E. Babucci; L. Baksay; A. Baschirotto; R. Battiston; A. Bay; Gy.L. Bencze; B. Bertucci; M. Biasini; G.M. Bilei; G.J. Bobbink; M. Bosetti; M.L. Brooks; W.J. Burger; J. Busenitz; C. Camps; M. Caria; G. Castellini; R. Castello; B. Checcucci; A. Chen; T.E. Coan; V. Commichau; D. DiBitonto; P. Duinker; S. Easo; P. Extermann; E. Fiandrini; A. Gabbanini; A. Gougas; K. Hangarter; C. Hauviller; A. Herve; G. Hu; M.I. Josa; J.S. Kapustinsky; D. Kim; W.W. Kinnison; J. Kornis; V.R. Krastev; G. Landi; M. Lebeau; D.M. Lee; R. Leiste; W. Lin; W. Lohmann; A. Marin; R. Massetti; G. Matay; G.B. Mills; H. Nowak; G. Passaleva; T. Paul; M. Pauluzzi; S. Pensotti; E. Perrin; P.G. Rancoita; M. Rattaggi; A. Rosch; A. Santocchia; R. Siedling; M. Sachwitz; P. Schmitz; B. Schöneich; L. Servoli; G.F. Susinno; G. Terzi; M. Tesi; F. Tonisch; J. Toth; G. Trowitzsch; G. Viertel; H. Vogt; S. Waldmeier; J. Wegmann; R. Weill; J. Xu; S.C. Yeh; B. Zhou · 1994

1994 running experience with the L3 Silicon Microvertex DetectorM. Acciarri; A. Adam; O. Adriani; S. Ahlen; J. Alcaraz; G. Ambrosi; V. Andreev; E. Babucci; L. Baksay; A. Baschirotto; R. Battiston; A. Bay; Gy.L. Bencze; B. Bertucci; M. Biasini; G.M. Bilei; G.J. Bobbink; M.L. Brooks; W.J. Burger; J. Busenitz; C. Camps; M. Caria; G. Castellini; R. Castello; B. Checcucci; A. Chen; E. Choumilov; V. Choutko; T.E. Coan; V. Commichau; D. DiBitonto; D. Ding; A. Dominguez; P. Duinker; S. Easo; P. Extermann; E. Fiandrini; A. Gabbanini; J. Goldstein; A. Gougas; K. Hangarter; C. Hauviller; A. Hervé; S.R. Hou; M.I. Josa; J.S. Kapustinsky; D. Kim; W.W. Kinnison; J. Kornis; V.R. Krastev; P. Ladron; G. Landi; M. Lebeau; P. Lecomte; D.M. Lee; R. Leiste; E. Lejeune; P. Levtchenko; W.T. Lin; W. Lohmann; A. Marin; G.B. Mills; H. Nowak; G. Passaleva; T. Paul; M. Pauluzzi; S. Pensotti; E. Perrin; J.C. Pinto; M. Pohl; N. Produit; P.G. Rancoita; M. Rattaggi; M. Sachwitz; A. Santocchia; P. Schmitz; B. Schöneich; L. Servoli; A. Sopczak; M. Tesi; F. Tonisch; J. Toth; G. Trowitzsch; H. Tuchscherer; M. Van Hoek; G. Viertel; H. Vogt; R. Weill; J. Xu; S.C. Yeh; B. Zhou; G. Zilizi · 1995

The L3 Silicon Microvertex Detector: installation and results on 1993 performanceM. Acciarri; A. Adam; O. Adriani; S. Ahlen; J. Alcaraz; G. Ambrosi; H. Andersson; V.P. Andreev; E. Babucci; L. Baksay; A. Baschirotto; R. Battiston; A. Bay; Gv.L. Bencze; B. Bertucci; M. Biasini; G.M. Bilei; G.J. Bobbink; M. Bosetti; V. Brigljevic; M.L. Brooks; W.J. Burger; J. Busenitz; C. Camps; M. Caria; G. Castellini; B. Checcucci; A. Chen; E. Choumilov; V. Choutko; T.E. Coan; F. Cotorobai; V. Commichau; D. DiBitonto; D. Ding; P. Duinker; S. Easo; P. Extermann; E. Fiandrini; A. Gabbanini; J. Goldstein; A. Gougas; K. Hangarter; C. Hauviller; A. Hervé; H. Hofer; S.R. Hou; I. Josa-Mutuberria; J.S. Kapustinsky; D. Kim; W.W. Kinnison; J. Kornis; V.R. Krastev; P. ladron de Guevara; G. Landi; M. Lebeau; D.M. Lee; P. Levtchenko; R. Leiste; E. Lejeune; W.T. Lin; W. Lohmann; A. Marin; G.B. Mills; H. Nowak; G. Passaleva; T. Paul; M. Pauluzzi; S. Pensotti; E. Perrin; J.C. Pinto; M. Pohl; N. Produit; P.G. Rancoita; M. Rattaggi; J.P. Richeux; A. Santocchia; P. Schmitz; B. Schöneich; L. Servoli; S. Shevchenko; A. Sopczak; G. Terzi; F. Tonisch; J. Toth; G. Trowitzsch; H. Tuchscherer; M. Van Hoek; H. Vogt; R. Weill; J. Xu; S.C. Yeh; B. Zhou; G. Zilizi · 1995

Performance on test beam of the L3 double-sided silicon microstrip detectorA. Adam; O. Adriani; S. Ahlen; G. Ambrosi; E. Babucci; A. Baschirotto; R. Battiston; A. Bay; Gy.L. Bencze; B. Bertucci; M. Biasini; G.M. Bilei; G.J. Bobbink; M. Bosetti; M.L. Brooks; J. Busenitz; W.J. Burger; C. Camps; M. Caria; G. Castellini; B. Checcucci; A. Chen; T.E. Coan; V. Commichau; D. DiBitonto; P. Duinker; S. Easo; P. Extermann; E. Fiandrini; A. Gougas; K. Hangarter; C. Hauviller; A. Herve; G. Hu; I. Josa; J.S. Kapustinski; D. Kim; W.W. Kinnison; V.R. Krastev; G. Landi; M. Lebeau; P. Lecomte; D.M. Lee; R. Leiste; W.T. Lin; W. Lohmann; A. Marin; R. Massetti; G.B. Mills; H. Nowak; G. Passaleva; T. Paul; M. Pauluzzi; S. Pensotti; E. Perrin; P.G. Rancoita; M. Rattaggi; A. Rosch; A. Santocchia; M. Sachwitz; P. Schmitz; B. Schöneich; L. Servoli; G. Susinno; G. Terzi; F. Tonisch; J. Toth; G. Trowitzsch; G.M. Viertel; H. Vogt; S. Waldmeier; J. Wegmann; R. Weill; S.C. Yeh; B. Zhou · 1994