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Impact of emitter fabrication on the yield of SiGe HBTs

Impact of emitter fabrication on the yield of SiGe HBTs

B. Heinemann; H. Rücker; B. Tillack

作者B. Heinemann; H. Rücker; B. Tillack
卷第517卷
期第1期
印刷ISSN0040-6090
文件大小429.64KB
发表时间2008
DOI10.1016/j.tsf.2008.08.129
页码71-74

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