Bias voltage dependence of magnetic tunnel junctions comprising amorphous ferromagnetic CoFeSiB layer with double barriers
H. I. Yim; S. Y. Lee; J. Y. Hwang; J. R. Rhee; B. S. Chun; K. L. Wang; Y. K. Kim; T. W. Kim; S. S. Lee; D. G. Hwang
- 作者H. I. Yim; S. Y. Lee; J. Y. Hwang; J. R. Rhee; B. S. Chun; K. L. Wang; Y. K. Kim; T. W. Kim; S. S. Lee; D. G. Hwang
- 卷第205卷
- 期第8期
- 印刷ISSN1862-6319
- 文件大小288.42KB
- 发表时间2008
- DOI10.1002/pssa.200723639
- 页码1847-1850