发现好书期刊，享受阅读乐趣

海量图书期刊资源，随时随地畅享阅读乐趣

Influence of trapped flux on critical currents of Josephson junctions

Ebert, Bjoern; Reich, Torsten; Ortlepp, Thomas; Febvre, Pascal; Uhlmann, F. Hermann

期刊名称IEICE Electronics Express
作者Ebert, Bjoern; Reich, Torsten; Ortlepp, Thomas; Febvre, Pascal; Uhlmann, F. Hermann
卷第5卷
期第11期
电子ISSN1349-2543
文件大小265.04KB
发表时间2008
DOI10.1587/elex.5.431
页码431-436