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RF CMOS reliability simulations

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Sasse, Guido T.; Acar, Mustafa; Kuper, Fred G.; Schmitz, Jurriaan

期刊名称Microelectronics Reliability
作者Sasse, Guido T.; Acar, Mustafa; Kuper, Fred G.; Schmitz, Jurriaan
卷第48卷
印刷ISSN0026-2714
文件大小232.17KB
发表时间2008-8
DOI10.1016/j.microrel.2008.06.017
页码1581-1585

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