Test Data Volume Comparison: Monolithic vs. Modular SoC Testing
Sinanoglu, O.; Marinissen, E.J.; Sehgal, A.; Fitzgerald, J.; Rearick, J.
- 作者Sinanoglu, O.; Marinissen, E.J.; Sehgal, A.; Fitzgerald, J.; Rearick, J.
- 卷第26卷
- 期第3期
- 文件大小244.44KB
- 发表时间2009
- DOI10.1109/mdt.2009.65
- 页码25-37