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$Combinatorial (Ba,Sr)TiO[sub 3] thin film growth: X-ray diffraction and Raman spectroscopy$

Combinatorial (Ba,Sr)TiO[sub 3] thin film growth: X-ray diffraction and Raman spectroscopy

Bouyanfif, H.; Wolfman, J.; El Marssi, M.; Yuzyuk, Y.; Bodeux, R.; Gervais, M.; Gervais, F.

期刊名称Journal of Applied Physics
作者Bouyanfif, H.; Wolfman, J.; El Marssi, M.; Yuzyuk, Y.; Bodeux, R.; Gervais, M.; Gervais, F.
卷第106卷
期第3期
印刷ISSN0021-8979
文件大小503.36KB
发表时间2009
DOI10.1063/1.3190478

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