Application of Surface Roughness Data for the Evaluation of Depth Profile Measurements of Nanoscale Multilayers
Bartók, András; Csik, Attila; Vad, Kálmán; Molnár, György; Tóth-Kádár, Enikő; Péter, László
- 期刊名称Journal of The Electrochemical Society
- 作者Bartók, András; Csik, Attila; Vad, Kálmán; Molnár, György; Tóth-Kádár, Enikő; Péter, László
- 卷第156卷
- 期第7期
- 印刷ISSN0013-4651
- 文件大小593.57KB
- 发表时间2009
- DOI10.1149/1.3133182