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An Analytical Model for Soft Error Critical Charge of Nanometric SRAMs

An Analytical Model for Soft Error Critical Charge of Nanometric SRAMs

Jahinuzzaman, S.M.; Sharifkhani, M.; Sachdev, M.

期刊名称IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
作者Jahinuzzaman, S.M.; Sharifkhani, M.; Sachdev, M.
卷第17卷
期第9期
印刷ISSN1063-8210
电子ISSN1557-9999
文件大小704.81KB
发表时间2009-09
DOI10.1109/tvlsi.2008.2003511
页码1187-1195

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