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Test Points Selection for Analog Fault Dictionary Techniques

Test Points Selection for Analog Fault Dictionary Techniques

Chenglin Yang; Shulin Tian; Bing Long
  • 作者Chenglin Yang; Shulin Tian; Bing Long
  • 卷第25卷
  • 印刷ISSN0923-8174
  • 电子ISSN1573-0727
  • 文件大小277.27KB
  • 发表时间2009-06
  • DOI10.1007/s10836-008-5097-8
  • 页码157-168
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