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Measure twice, cut once: pitfalls in the diagnosis of supraventricular tachycardia

Measure twice, cut once: pitfalls in the diagnosis of supraventricular tachycardia

S. M. Chaldoupi; F. H. M. Wittkampf; V. J. H. M. van Driel; P. Loh

作者S. M. Chaldoupi; F. H. M. Wittkampf; V. J. H. M. van Driel; P. Loh
卷第18卷
期第2期
印刷ISSN1568-5888
电子ISSN1876-6250
文件大小777.40KB
发表时间2010-02
DOI10.1007/bf03091742
页码78-84

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