Thin Films
Jang, H. W.; Kumar, A.; Denev, S.; Biegalski, M. D.; Maksymovych, P.; Bark, C. W.; Nelson, C. T.; Folkman, C. M.; Baek, S. H.; Balke, N.; Brooks, C. M.; Tenne, D. A.; Schlom, D. G.; Chen, L. Q.; Pan, X. Q.; Kalinin, S. V.; Gopalan, V.; Eom, C. B.
- 期刊名称Physical Review Letters
- 作者Jang, H. W.; Kumar, A.; Denev, S.; Biegalski, M. D.; Maksymovych, P.; Bark, C. W.; Nelson, C. T.; Folkman, C. M.; Baek, S. H.; Balke, N.; Brooks, C. M.; Tenne, D. A.; Schlom, D. G.; Chen, L. Q.; Pan, X. Q.; Kalinin, S. V.; Gopalan, V.; Eom, C. B.
- 卷第104卷
- 期第19期
- 印刷ISSN0031-9007
- 电子ISSN1079-7114
- 文件大小801.88KB
- 发表时间2010-5-13
- DOI10.1103/PhysRevLett.104.197601