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X-Ray Diffraction Microscopy

X-Ray Diffraction Microscopy

Thibault, Pierre; Elser, Veit
  • 期刊名称Annual Review of Condensed Matter Physics
  • 作者Thibault, Pierre; Elser, Veit
  • 卷第1卷
  • 期第1期
  • 印刷ISSN1947-5454
  • 电子ISSN1947-5462
  • 文件大小4192.80KB
  • 发表时间2010-08-10
  • DOI10.1146/annurev-conmatphys-070909-104034
  • 页码237-255
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