[IEEE 2010 24th IEEE International Conference on Advanced Information Networking and Applications - Perth, Australia (2010.04.20-2010.04.23)] 2010 24th IEEE International Conference on Advanced Information Networking and Applications - A PCA Analysis of Daily Unwanted Traffic
- 作者Fukuda, Kensuke; Hirotsu, Toshio; Akashi, Osamu; Sugawara, Toshiharu
- 文件大小390.60KB
- 发表时间2010
- DOI10.1109/aina.2010.79
- 页码377-384
An Adaptive Methodology for Machine Tool Error CorrectionMou, J.; Liu, C. R. · Journal of Engineering for Industry · 1995
An Innovative Approach to Increase the Accuracy of Multi-Axis Machines for Process-Intermittent InspectionMou, J.; Liu, C. R. · Journal of Manufacturing Science and Engineering · 1996
Pre-clinical Experimental Therapeutics and PharmacologyJensen, R. L.; Gilliespie, D.; Ajewung, N.; Faure, R.; Kamnasaran, D.; Ajewung, N.; Poirier, D.; Kamnasaran, D.; Tamura, K.; Wakimoto, H.; Rabkin, S. D.; Martuza, R. L.; Shah, K.; Hashizume, R.; Aoki, Y.; Serwer, L. P.; Drummond, D.; Noble, C.; Park, J.; Bankiewicz, K.; James, D. C.; Gupta, N.; Agerholm-Larsen, B.; Iversen, H. K.; Jensen, K. S.; Moller, J.; Ibsen, P.; Mahmood, F.; Gehl, J.; Corem, E.; Ram, Z.; Daniels, D.; Last, D.; Shneor, R.; Salomon, S.; Perlstein, B.; Margel, S.; Mardor, Y.; Charest, G.; Fortin, D.; Mathieu, D.; Sanche, L.; Paquette, B.; Li, H.-F.; Hashizume, R.; Aoki, Y.; Hariono, S.; Dasgupta, T.; Kim, J.-S.; Haas-Kogan, D.; Weiss, W. A.; Gupta, N.; James, C. D.; Waldman, T.; Nicolaides, T.; Ozawa, T.; Rao, S.; Sun, H.; Ng, C.; De La Torre, J.; Santos, R.; Prados, M.; James, C. D.; Butowski, N.; Michaud, K.; Solomon, D. A.; Li, H.-F.; Kim, J.-S.; Prados, M. D.; Ozawa, T.; Waldman, T.; James, C. D.; Pandya, H.; Gibo, D.; Debinski, W.; Vinchon-Petit, S.; Jarnet, D.; Jadaud, E.; Feuvret, L.; Garcion, E.; Menei, P.; Chen, R.; Yu, J.-C.; Liu, C.; Jaffer, Z. M.; Chabala, J. C.; Winssinger, N.; Rubenstein, A. E.; Emdad, L.; Kothari, H.; Qadeer, Z.; Binello, E.; Germano, I.; Hirschberg, H.; Baek, S.-K.; Kwon, Y. J.; Sun, C. H.; Li, S. C.; Madsen, S.; Debinski, W.; Liu, T.; Wang, S.-W.; Gibo, D. M.; Fan, Q.-W.; Cheng, C.; Hackett, C.; Feldman, M.; Houseman, B. T.; Houseman, B. T.; Nicolaides, T.; James, C. D.; Haas-Kogan, D.; Oakes, S. A.; Debnath, J.; Shokat, K. M.; Weiss, W. A.; Sai, K.; Chen, F.; Qiu, Z.; Mou, Y.; Zhang, X.; Yang, Q.; Chen, Z.; Patel, T. R.; Zhou, J.; Piepmeier, J. M.; Saltzman, W. M.; Banerjee, S.; Kaul, A.; Gianino, S. M.; Christians, U.; Gutmann, D. H.; Wu, J.; Shen, R.; Puduvalli, V.; Koul, D.; Alfred Yung, W. K.; Yun, J.; Sonabend, A.; Stuart, M.; Yanagihara, T.; Dashnaw, S.; Brown, T.; McCormick, P.; Romanov, A.; Sebastian, M.; Canoll, P.; Bruce, J. N.; Piao, L.; Joshi, K.; Lee, R. J.; Nakano, I.; Madsen, S. J.; Chou, C. C.; · Neuro-Oncology · 2010
Lab methods / biomarkersBorras, M.; Roig, J.; Betriu, A.; Vilar, A.; Hernandez, M.; Martin, M.; Fernandez, E. D.; Dounousi, E.; Kiatou, V.; Papagianni, A.; Zikou, X.; Pappas, K.; Pappas, E.; Tatsioni, A.; Tsakiris, D.; Siamopoulos, K. C.; Kim, J.-K.; Kim, Y.; Kim, S. G.; Kim, H. J.; Ahn, S. Y.; Chin, H. J.; Oh, K.-H.; Ahn, C.; Chae, D.-W.; Yazici, R.; Altintepe, L.; Bakdik, S.; Guney, I.; Arslan, S.; Topal, M.; Karagoz, A.; Stefan, G.; Mircescu, G.; Capusa, C.; Stancu, S.; Petrescu, L.; Alecu, S.; Nedelcu, D.; Bennett, A. H. L.; Pham, H.; Garrity, M.; Magdeleyns, E.; Vermeer, C.; Zhang, M.; Ni, Z.; Zhu, M.; Yan, J.; Mou, S.; Wang, Q.; Qian, J.; Saade, A.; Karavetian, M.; ElZein, H.; de Vries, N.; de Haseth, D. E.; Lay Penne, E.; van Dam, B.; Bax, W. A.; Bots, M. L.; Grooteman, M. P. C.; van den Dorpel, R. A.; Blankenstijn, P. J.; Nube, M. J.; Wee, P. M.; Park, J. H.; Jo, Y.-I.; Lee, J. H.; Cianfrone, P.; Comi, N.; Lucisano, G.; Piraina, V.; Talarico, R.; Fuiano, G.; Toyonaga, M.; Fukami, K.; Yamagishi, S.-i.; Kaida, Y.; Nakayama, Y.; Ando, R.; Obara, N.; Ueda, S.; Okuda, S.; Granatova, J.; Havrda, M.; Hruskova, Z.; Tesar, V.; Viklicky, O.; Rysava, R.; Rychlik, I.; Kratka, K.; Honsova, E.; Vernerova, Z.; Maluskova, J.; Vranova, J.; Bolkova, M.; Borecka, K.; Benakova, H.; Zima, T.; Lu, K.-C.; Yang, H.-Y.; Su, S.-L.; Cao, Y.-H.; Lv, L.-L.; Liu, B.-C.; Zeng, R.; Gao, X.-F.; Deng, Y.-Y.; Boelaert, J.; t' Kindt, R.; Glorieux, G.; Schepers, E.; Jorge, L.; Neirynck, N.; Lynen, F.; Sandra, P.; Sandra, K.; Vanholder, R.; Yamamoto, T.; Nameta, M.; Yoshida, Y.; Uhlen, M.; Shi, Y.; Tang, J.; Zhang, J.; An, Y.; Liao, Y.; Li, Y.; Tao, Y.; Wang, L.; Koibuchi, K.; Tanaka, K.; Aoki, T.; Miyagi, M.; Sakai, K.; Aikawa, A.; Martins, A. R.; Branco, P. Q.; Serra, F. M.; Matias, P. J.; Lucas, C. P.; Adragao, T.; Duarte, J.; Oliveira, M. M.; Saraiva, A. M.; Barata, J. D.; Masola, V.; Zaza, G.; Granata, S.; Proglio, M.; Pontrelli, P.; Abaterusso, C.; Schena, F.; Gesualdo, L.; Gambaro, G.; Lupo, A.; Pruijm, M.; Hof · Nephrology Dialysis Transplantation · 2013
EditorialInternational Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1997
Guest editorialO'GRADY, PETER · International Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1991
Editorial BoardInternational Journal of Computer Integrated Manufacturing · 2012
EditorialCHRYSSOLOURIS, GEORGE · International Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1990
Towards a manufacturing metamodelGong, Dah-Chuan · International Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1996
EditorialKOSANKIL, KURT · International Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1990
EditorialWILLIAMS, PROFESSOR DAVID J. · International Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1989
An exception-handling frameworkVISSER, A. · International Journal of Computer Integrated Manufacturing · 1995